http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.nrigk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lngsgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.leosgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lhosgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lfosgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lhsgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lshgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lfhgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lphgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lfsppgk-is-87.jpglink
http://www.irkinstchem.ru/modules/mod_image_show_gk4/cache/slides.lhdgk-is-87.jpglink
«
»

Приборная база


 Мультиядерный цифровой ЯМР-спектрометр DPX 400 (Bruker, Германия ) 

Область применения:

Предназначен для изучения состава, строения,  стереодинамического и химического поведения сложных синтетических и природных органических и элементоорганических соединений и их смесей в растворах.

Технические данные:

Рабочая частота 400 мГц, оборудован следующими

5 ммдатчиками:

  — двойной датчик 1Н, 13C;

  — широкополосный датчик 31Р-15N;

  — инверсионный датчик 31З1109 Аg;

  — температурные и твердотельные приставки.


 

Импульсный ЭПР спектрометр

 с Фурье-преобразованием 580 FT/CW (Bruker, Германия ) 

Область применения:

  — изучение строения и свойств различных парамагнитных центров в синтетических и природных нано- и микрообъектах;

  — изучение механизмов радикальных реакций;

  — исследование микроскопического окружения неспаренного электрона, молекулярного движения, фазовых переходов.

Основные характеристики:

  — диапазон частот: 9—10 ГГц (Х-band);

  — магнитное поле —3000 G;

  — абсолютная чувствительность — 1,2  ×  1010 сп/G;

  — температурный режим от 4 К до 500 К;

  — режимы: непрерывный и импульсный.


 

Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 VENTURE (Bruker, Германия) 

Область применения:

Расчёт параметров кристаллических решёток, поиск фаз, деформационных напряжений, величины кристаллитов в порошке вещества, атомного строения вещества, структурных распределённых деформаций.

Технические характеристики:

Метод съёмки — Брэгг-Брентано.

Точность установки углов — 0,005°.

Режим съёмки — пошаговый или непрерывный.

Режим работы трубки — 40 кВ, 40 µА.

Температурная приставка способна поддерживать любую температуру кристалла в интервале 100 – 700 K.


 

Рентгеновский дифрактометр D2PHASER (Bruker, Германия) 

Область применения:

Поиск фаз в природных объектах, анализ поликристаллических материалов и контроль качества химических, фармацевтических, геологических и других образцов.

Технические характеристики:

  — качественный и количественный анализ  кристаллических фаз;

  — структурный анализ;

  — определение размеров кристаллов;

  — определение угла разориентации между кристаллами;

  — текстурный анализ;

  — исследование остаточных напряжений.


 

Масс-спектрометр ultrafeXtreme (Bruker, Германия) 

Область применения:

Анализ биологических и синтетических полимеров.

Основные характеристики:

  — тандемный TOF/TOF масс-спектрометр, формат

384 образца.  Твердотельный лазер 1 кГц с ресурсом 109  лазера и фокусировкой луча;

  — самоочищающийся лазерный источник ионов

MALDI Perpetual;

  — точность определения масс до 40  000 с точностью 1 ppm с высочайшей достоверностью.


 

Хроматомасс-спектрометр Agilent 5975 (Agilent, Германия)

Область применения:

Анализ органических и элементоорганических соединений, в том числе анализ загрязнения окружающей среды и определения следовых количеств (на уровне 10−12

 г и ниже) высокотоксичных соединений в окружающей среде, пищевых продуктах

и организме человека и животных.

Технические данные:

Квадрупольный газовый хромато-масс-спектрометр  обеспечивает три вида ионизации:

  — электронный удар — генератор классического масс-спектра;

  — положительная ионизация для точного определения молекулярной массы;

  — отрицательная ионизация для высокочувствительного определения электрофильных компонентов;

  — опция для анализа твёрдых проб;

  — диапазон измеряемых масс от 1,5 до 850 Да.


 

ИК Фурье-спектрометр Vertex 70   с   Раман-приставкой (Bruker, Германия) 

Область применения:

Неразрушающий метод исследования нанообъектов, органических и лементоорганических соединений, лекарственных средств, пищевых продуктов, продуктов нефтехимии, полимеров, строительных материалов.

Технические данные:

  — спектральный диапазон: 7500—50 см-1;

  — разрешение: 0,5 см−1;

  — точность волнового числа: 0,01 см−1;

  — фотометрическая точность: 0,1 %  Т.


 

ИК Фурье-спектрометр 3100 FT IR (Varian, США) 

Область применения:

Неразрушающий метод исследования нанообъектов, органических и лементоорганических соединений, лекарственных средств, пищевых продуктов, продуктов нефтехимии, полимеров, строительных материалов.

Технические данные:

  — спектральный диапазон: 7500—50 см-1;

  — разрешение: 0,5 см−1;

  — точность волнового числа: 0,01 см−1;

  — фотометрическая точность: 0,1 %  Т.


 

Электронный микроскоп ТМ3000 (Hitachi, Япония)

Основные технические характеристики:

  — ускоряющее напряжение: 5, 15 кВ;

  — увеличение: ×15—30  000;

  — разрешение: 30 нм;

  — режимы исследования: стандартный высоковакуумный и режим снятия зарядки с образца (низковакуумный режим);

  — диапазон определяемых элементов — от B (5) до U (92).


 

Элементный анализатор Flash EA 1112 СHNS- O/MAS 200

Область применения:

Элементный анализ органических и элементоорганических соединений, лекарственных средств, пищевых продуктов, продуктов нефтехимии, полимеров, строительных материалов.

Технические данные:

  — масса пробы: 0,01—100 м;

  — диапазон измерения: 100 ррт —  100 %;

  — время анализа: CHN — 8 минут; CHNS — 10 минут.


 

УФ/ВИД - Спектрометр LAMBDA 35 (PerkinElmer, США)

Область применения:

Технические данные:

Область длин волн: 190 – 1100 нм

Рассеянный свет: <<0.01%T при 220, 340 и 370 нм

Точность установки длины волны: ±0.1 нм, пик D2 при 656.1 нм

Воспроизводимость установки длины волны: ±0.05 нм, пик D2 при 656.1 нм

Спектральная ширина щели: переменная  0.5, 1, 2 или 4 нм


 

 

 

 

 

 

 

      Яндекс.Метрика